인텍플러스, 평판 패널 검사 관련 미국특허 취득

입력 2016-07-08 09:56

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최두선 기자

인텍플러스는 평판 패널을 검사하는 방법에 대해 미국특허를 취득했다고 8일 공시했다. 특허취득일자는 이달 6일이다.

회사 측은 "당사 외관검사장비의 경쟁력 강화 목적"이라고 밝혔다.

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