인텍플러스, 표면형상 측정시스템 관련 특허권 취득

입력 2013-08-28 13:42

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황윤주 기자

인텍플러스는 28일 표면형상 측정 시스템 및 그를 이용한 측정방법과 관련된 특허권을 취득했다고 공시했다.

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