파이컴, 액정표시패널 검사 장비 스테이지와 관련 특허취득

입력 2006-12-21 14:44

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파이컴은 21일 액정표시패널 검사 장비의 검사 스테이지와 관련해 특허를 취득했다고 밝혔다.

파이컴 관계자는 "본 발명은 LCD 점등 검사 장비인 Probe Staion의 검사 스테이지에 관한 것으로써, 검사 스테이지 내의 쿨링부재에 의하여 스테이지에 구성된 부품들의 열변형을 방지하는 효과가 있다"고 설명했다.

또한 "스테이지에 구성된 부품들의 열변형이 방지되어 점등 검사되는 대면적 LCD의 처짐을 방지하는 효과가 있다"고 덧붙였다.

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