인텍플러스, 대만특허 2건 취득

입력 2012-06-14 11:17

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김지호 기자

인텍플러스는 14일 반도체 소자의 비전 검사 시스템 관련 특허 2건을 취득했다고 밝혔다.

회사 측은 외관검사장비의 경쟁력 강화를 특허를 활용할 계획이라고 설명했다.

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